JEOL JSM-6510 掃描電子顯微鏡，成色良好，功能完整，配備真空泵、控制電腦和軟件，適用于材料學(xué)、電子、生命科學(xué)等表面微結(jié)構(gòu)分析。
EOL JSM-6510 是一款性能穩(wěn)定、應(yīng)用廣泛的掃描電子顯微鏡（SEM），適用于微米及納米級表面結(jié)構(gòu)的高分辨率成像。本設(shè)備為二手原裝拆機(jī)，經(jīng)過專業(yè)檢測，功能完好，外觀保存良好。
主要特點(diǎn)：
型號：JEOL JSM-6510
放大倍率：10× 至 300,000×
分辨率：約 3.0 nm（高真空模式）
加速電壓：0.3 – 30 kV
探測器：標(biāo)準(zhǔn) SEI 二次電子探測器，可選 BSE 背散射電子探測器
真空系統(tǒng)：配套 ULVAC 油封旋片真空泵
控制系統(tǒng)：含專用控制電腦、顯示器與操作軟件
應(yīng)用領(lǐng)域：材料學(xué)研究、半導(dǎo)體檢測、金屬表面分析、生物樣品觀察
設(shè)備狀態(tài)：
成色：二手，外觀良好
功能：經(jīng)檢測運(yùn)行正常
附件：真空泵、控制電腦、顯示器、操作臺(tái)
軟件：已安裝 JEOL SEM 控制軟件
適用范圍：
本設(shè)備可廣泛應(yīng)用于科研院所、大學(xué)實(shí)驗(yàn)室、電子工廠檢測部門，以及各類材料與生命科學(xué)研究。
